日本語
 
Help Privacy Policy ポリシー/免責事項
  詳細検索ブラウズ

アイテム詳細

  Array detector for the atomic force microscope

Schaeffer, T. E., Richter, M., & Viani, M. (2000). Array detector for the atomic force microscope. Applied Physics Letters, 76, 3644-3646.

Item is

基本情報

表示: 非表示:
資料種別: 学術論文

ファイル

表示: ファイル

関連URL

表示:

作成者

表示:
非表示:
 作成者:
Schaeffer, T. E.1, 著者           
Richter, M., 著者
Viani, M., 著者
所属:
1Department of Molecular Biology, MPI for biophysical chemistry, Max Planck Society, ou_578628              

内容説明

表示:
非表示:
キーワード: Optical-beam deflection. Small cantilevers. Applied Physics/Condensed Matter/Materials Science in Current Contents(R)/Physical, Chemical & Earth Sciences. 2-Aminopurine/*analysis/chemistry
 要旨: We present a method for measuring the deflection of the optical beam in an atomic force microscope (AFM) that yields an increased signal-to-noise ratio, compared to the conventional two-segment detection. This increase is achieved by distributing the optical power from the beam across an array of photodetector segments and splitting it into multiple channels. Each channel has an adjustable gain factor that is set dynamically to weigh the contribution from each channel. We find a mathematical condition for the gain factors that allows detection of cantilever deflections with maximum signal-to-noise ratio and demonstrate this for the case of a 12-mu m-long cantilever in an AFM for small cantilevers.

資料詳細

表示:
非表示:
言語: eng - English
 日付: 2005-08-052000
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 236825
その他: 23128
 学位: -

関連イベント

表示:

訴訟

表示:

Project information

表示:

出版物 1

表示:
非表示:
出版物名: Applied Physics Letters
  出版物の別名 : Appl. Phys. Lett.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 76 通巻号: - 開始・終了ページ: 3644 - 3646 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -