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  Probing adsorption sites on thin oxide films by dynamic force microscopy

Heyde, M., Simon, G. H., Rust, H.-P., & Freund, H.-J. (2006). Probing adsorption sites on thin oxide films by dynamic force microscopy. Applied Physics Letters, 89(26): 263107. doi:10.1063/1.2424432.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-069D-8 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-E715-F
Genre: Zeitschriftenartikel

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738457_CTA.pdf (Verlagsvertrag), 902KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
738457_CTA.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Privat
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
Lizenz:
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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Heyde, Markus1, Autor           
Simon, Georg H.1, Autor           
Rust, Hans-Peter1, Autor           
Freund, Hans-Joachim1, Autor           
Affiliations:
1Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24022              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 312500
DOI: 10.1063/1.2424432
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Alternativer Titel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
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Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 89 (26) Artikelnummer: 263107 Start- / Endseite: - Identifikator: -