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  Photoelectron and photoion study of the valence photoionization of C60

Reinköster, A., Korica, S., Langer, B., Prümper, G., Rolles, D., Viefhaus, J., Cvejanovic, S., & Becker, U. (2005). Photoelectron and photoion study of the valence photoionization of C60. Journal of Electron Spectreoscopy and Related Phenomena, 144-147, 151-153. doi:10.1016/j.elspec.2005.01.143.

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資料種別: 学術論文

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 作成者:
Reinköster, Axel1, 著者           
Korica, Sanja1, 著者           
Langer, Burkhard, 著者
Prümper, Georg1, 著者           
Rolles, Daniel1, 著者           
Viefhaus, Jens1, 著者           
Cvejanovic, Slobodan1, 著者           
Becker, Uwe1, 著者           
所属:
1Molecular Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634545              

内容説明

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キーワード: C60; Fullerene; Photoionization; Fragmentation; Shake-off; Valence Auger
 要旨: Recent photoion yield measurements, done in the valence photoionization region of C60, reveal a high fraction of doubly and even triply charged ions [see A. Reinköster, S. Korica, G. Prümper, J. Viefhaus, K. Godehusen, O. Schwarzkopf, M. Mast, U. Becker, J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 37 (2004) 2135]. The Click to view the MathML source intensity increases continously up to hν≈60 eV and stays constants at higher photon energies. Moreover, the fragmentation into Click to view the MathML source and Click to view the MathML source is pronounced in the energy region hν≈50–70 eV. The question arises, if after electrons are removed from certain electronic levels, the multiple-ionization or even the fragmentation is somehow triggered. Or in other words, if the multiple-ionization or the fragmentation characteristics can be already seen in the simple (non-coincident) electron data. We can answer the question with the help of such non-coincident valence electron measurements, recorded in the interesting photon energy region hν≈40–70 eV.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2005-02-24
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 217841
DOI: 10.1016/j.elspec.2005.01.143
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Journal of Electron Spectreoscopy and Related Phenomena
  出版物の別名 : J. Electron Spectrosc. Relat. Phen.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 144-147 通巻号: - 開始・終了ページ: 151 - 153 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -