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  SiO2 supported Pt particles studied by electron microscopy

Wang, D., Penner, S., Rupprechter, G., Su, D. S., Hayek, K., & Schlögl, R. (2002). SiO2 supported Pt particles studied by electron microscopy. Poster presented at XI Conference on Electron Microscopy of Solids, Krynica, Poland.

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KrynicaTEM.pdf (beliebiger Volltext), 9KB
Name:
KrynicaTEM.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wang, Di1, Autor           
Penner, Simon, Autor
Rupprechter, Günther2, Autor           
Su, Dang Sheng1, Autor           
Hayek, Konrad1, Autor           
Schlögl, Robert1, Autor           
Affiliations:
1Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24023              
2Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24022              

Inhalt

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Schlagwörter: Scientific Project 21: electron microscopic investigatons on the important catalytic systems
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum:
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 1812
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: XI Conference on Electron Microscopy of Solids
Veranstaltungsort: Krynica, Poland
Start-/Enddatum: 2002-05-19 - 2002-05-23

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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