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  Radiation Damages in Transmission Electron Microscope

Su, D. S. (2001). Radiation Damages in Transmission Electron Microscope. Talk presented at Abteilungsseminar, Institut für Angewandte Physik. Technische Universität Wien, Austria. 2001-07-03 - 2001-07-03.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-17FD-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-17FE-1
Genre: Vortrag

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Abstract.pdf (beliebiger Volltext), 230KB
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https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-17FC-5
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Öffentlich
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Urheber

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 Urheber:
Su, Dang Sheng1, Autor           
Affiliations:
1Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24023              

Inhalt

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Schlagwörter: Radiation damage, TEM, EELS, Metal oxides Scientific Project 35: Electron microscopic investigations on V-oxides
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum:
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 1701
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Abteilungsseminar, Institut für Angewandte Physik
Veranstaltungsort: Technische Universität Wien, Austria
Start-/Enddatum: 2001-07-03 - 2001-07-03
Eingeladen: Ja

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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