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  Charakterisierung chemisch abgeschiedener nanokristalliner Zirkonoxidfilme mit Rasterkraft- und Rasterelektronenmikroskopie (AFM & SEM)

Fischer, A., Jentoft, F. C., Weinberg, G., & Schlögl, R. (1999). Charakterisierung chemisch abgeschiedener nanokristalliner Zirkonoxidfilme mit Rasterkraft- und Rasterelektronenmikroskopie (AFM & SEM). Talk presented at 98. Hauptversammlung der Deutschen Bunsen-Gesellschaft für Physikalische Chemie. Dortmund, Germany. 1999-05-13 - 1999-05-15.

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fischer_bunsen_99.pdf (Any fulltext), 11KB
Name:
fischer_bunsen_99.pdf
Description:
-
Visibility:
Public
MIME-Type / Checksum:
application/pdf / [MD5]
Technical Metadata:
Copyright Date:
-
Copyright Info:
-
License:
-

Locators

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Creators

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 Creators:
Fischer, Armin1, Author              
Jentoft, Friederike C.1, Author              
Weinberg, Gisela1, Author              
Schlögl, Robert1, Author              
Affiliations:
1Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24023              

Content

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Free keywords: Project 3: Silicon-supported thin films of sulfated zirconia
 Abstract: -

Details

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Language(s): deu - German
 Dates:
 Publication Status: Not specified
 Pages: -
 Publishing info: -
 Table of Contents: -
 Rev. Type: -
 Identifiers: eDoc: 1259
 Degree: -

Event

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Title: 98. Hauptversammlung der Deutschen Bunsen-Gesellschaft für Physikalische Chemie
Place of Event: Dortmund, Germany
Start-/End Date: 1999-05-13 - 1999-05-15

Legal Case

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