Fischer, A., Jentoft, F. C., Weinberg, G., & Schlögl, R. (1999). Charakterisierung chemisch abgeschiedener nanokristalliner Zirkonoxidfilme mit Rasterkraft- und Rasterelektronenmikroskopie (AFM & SEM). Talk presented at 98. Hauptversammlung der Deutschen Bunsen-Gesellschaft für Physikalische Chemie. Dortmund, Germany. 1999-05-13 - 1999-05-15.