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  A scanning tunneling microscopy study of the GaAs(112) surfaces

Geelhaar, L., Márquez, J., Jacobi, K., Kley, A., Ruggerone, P., & Scheffler, M. (1999). A scanning tunneling microscopy study of the GaAs(112) surfaces. Microelectronics Journal, 30(4-5), 393-396. doi:10.1016/S0026-2692(98)00141-4.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-1DA5-E Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0006-E670-8
Genre: Zeitschriftenartikel

Dateien

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:
Microel-J-30-393-1999.pdf (beliebiger Volltext), 219KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
Microel-J-30-393-1999.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Privat
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
1999
Copyright Info:
Elsevier
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Geelhaar, Lutz1, Autor           
Márquez, J.1, Autor           
Jacobi, Karl1, Autor           
Kley, Alexander2, Autor           
Ruggerone, Paolo, Autor
Scheffler, Matthias2, Autor           
Affiliations:
1Physical Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634546              
2Theory, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634547              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1998-11-061999-04-051999-05
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 4
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 2415
DOI: 10.1016/S0026-2692(98)00141-4
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microelectronics Journal
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: [Luton, Eng., etc. : Elsevier
Seiten: 4 Band / Heft: 30 (4-5) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 393 - 396 Identifikator: ISSN: 0026-2692
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925424170