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  Self-consistent study of the electronic and structural properties of the clean Si(001) (2x1) surface

Dabrowski, J., & Scheffler, M. (1992). Self-consistent study of the electronic and structural properties of the clean Si(001) (2x1) surface. Applied Surface Science, 56-58, 15-19.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-220A-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-220A-3
Genre: Zeitschriftenartikel

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:
ASS-56to58-15-1992.pdf (beliebiger Volltext), 209KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
ASS-56to58-15-1992.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Privat
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
Lizenz:
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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dabrowski, J.1, Autor
Scheffler, M.2, Autor           
Affiliations:
1Max Planck Society, ou_persistent13              
2Theory, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634547              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1992
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 2118
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Surface Science
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
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Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 56-58 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 15 - 19 Identifikator: -