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  Mechanisms of defect pairing in semiconductors: A study for chalcogens in silicon

Weinert, C. M., & Scheffler, M. (1987). Mechanisms of defect pairing in semiconductors: A study for chalcogens in silicon. Physical Review Letters, 58, 1456-1459.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-2345-F Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-2345-F
Genre: Zeitschriftenartikel

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:
Phys-Rev-Lett-58-1456-1987.pdf (beliebiger Volltext), 668KB
 
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Name:
Phys-Rev-Lett-58-1456-1987.pdf
Beschreibung:
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OA-Status:
Sichtbarkeit:
Privat
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
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Copyright Info:
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Lizenz:
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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Weinert, C. M.1, Autor
Scheffler, M.2, Autor           
Affiliations:
1Max Planck Society, ou_persistent13              
2Theory, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634547              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 1987
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 2893
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review Letters
Genre der Quelle: Zeitschrift
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Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 58 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1456 - 1459 Identifikator: -