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  Multiple ionization of rare gas atoms by intense free electron laser radiation at 51 and 61 nm

Rudenko, A., Kurka, M., Foucar, L., Kühnel, K.-U., Ullrich, J., Fukuzawa, H., et al. (2009). Multiple ionization of rare gas atoms by intense free electron laser radiation at 51 and 61 nm. Journal of Physics: Conference Series, 194(3): 032021.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Rudenko, A.1, Autor           
Kurka, M.1, Autor           
Foucar, L.1, Autor           
Kühnel, K.-U.1, Autor           
Ullrich, J.1, Autor           
Fukuzawa, H.2, Autor
Liu, X.-J.2, Autor
Prümper, G.2, Autor
Okunishi, M.2, Autor
Ueda, K.2, Autor
Iwayama, H.2, Autor
Nagaya, K.2, Autor
Murakami, H.2, Autor
Sugishima, A.2, Autor
Yao, M.2, Autor
Motomura, K.2, Autor
Saito, N.2, Autor
Feifel, R.2, Autor
Czasch, A.2, Autor
Dörner, R.1, Autor           
Belkacem, A.2, AutorNagasono, M.2, AutorHigashiya, A.2, AutorTogashi, T.2, AutorYabashi, M.2, AutorIshikawa, T.2, AutorOhashi, H.2, AutorKimura, H.2, Autor mehr..
Affiliations:
1Division Prof. Dr. Joachim H. Ullrich, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society, ou_904547              
2Max-Planck Advanced Study Group at CFEL, 22607 Hamburg, Germany RIKEN, XFEL Project Head Office, Kouto 1-1-1, Sayo, Hyogo 679-5148, Japan Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan Institut für Kernphysik, Universität Frankfurt, 60438 Frankfurt, Germany Department of Physics, Kyoto University, Kyoto 606-8502, Japan National Metrology Institute of Japan, AIST, Tsukuba 305-8568, Japan Department of Physics and Material Science, Uppsala University, PO Box 530, SE-751 21 Uppsala, Sweden Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, California 94720, USA Japan Synchrotron Radiation Research Institute, Kouto 1-1-1, 679-5198, Japan, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: We have studied multiple ionization of rare gas atoms (Ne, Ar, Kr, Xe) by intense 51 nm and 61 nm radiation delivered by the EUV-FEL at SPring-8 Compact SASE Source (SCSS) Test Accelerator. Charge states as high as Ar7+ and Kr8+ have been observed. We present intensity dependent yields of multiply charged ions providing benchmark data for theory, and discuss the role of direct, sequential and resonant ionization channels.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 499541
DOI: 10.1088/1742-6596/194/3/032021
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: XXVI International Conference on Photonic, Electronic and Atomic Collisions
Veranstaltungsort: Kalamazoo, USA
Start-/Enddatum: 2009-07-22 - 2009-07-28

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Physics: Conference Series
  Alternativer Titel : J. Phys.: Conf. Ser.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 194 (3) Artikelnummer: 032021 Start- / Endseite: - Identifikator: -