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  Radiative electron capture into high-Z few-electron ions: Alignment of the excited ionic states

Surzhykov, A., Jentschura, U. D., Stöhlker, T., & Fritzsche, S. (2006). Radiative electron capture into high-Z few-electron ions: Alignment of the excited ionic states. Physical Review A, 73(3):, pp. 1-8. doi:10.1103/PhysRevA.73.032716.

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資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Surzhykov, Andrey1, 著者           
Jentschura, Ulrich David1, 著者           
Stöhlker, Thomas2, 著者
Fritzsche, Stephan2, 著者
所属:
1Division Prof. Dr. Christoph H. Keitel, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society, ou_904546              
2Gesellschaft für Schwerionenforschung (GSI), D-64291 Darmstadt, Germany Institut für Kernphysik, Universität Frankfurt, D-60486 Frankfurt, GermanyInstitut für Physik, Universität Kassel, D-34132 Kassel, Germany, ou_persistent22              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: We lay out a unified formalism for the description of radiative electron capture into excited states of heavy, few-electron ions and their subsequent decay, including a full account of many-electron effects and higher-order multipoles of the radiation field. In particular, the density-matrix theory is applied to explore the magnetic sublevel population of the residual ions, as described in terms of alignment parameters. For the electron capture into the initially hydrogenlike U91+ and lithiumlike U89+ uranium projectiles, the alignment parameters are calculated, within the multiconfiguration Dirac-Fock approach, as a function of the collision energy and for different ionic states. From these calculations, we find that the many-electron interactions may result in a small enhancement of the alignment, and that this effect becomes more pronounced for highly excited levels.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2006-03-17
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 285294
DOI: 10.1103/PhysRevA.73.032716
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Physical Review A
  出版物の別名 : Phys. Rev. A
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 73 (3) 通巻号: 032716 開始・終了ページ: 1 - 8 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -