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  Development of calibration methods for a photon emission microscope to analyse light emitted from semiconductor detectors

Feuerbaum, C. (2008). Development of calibration methods for a photon emission microscope to analyse light emitted from semiconductor detectors. Diploma Thesis, Technische Universität München, München, Germany.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-C817-4 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-C818-2
Genre: Hochschulschrift

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:
feuerbaum-dipl.pdf (beliebiger Volltext), 6MB
 
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feuerbaum-dipl.pdf
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Sichtbarkeit:
Privat
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
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Copyright Info:
-
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Feuerbaum, Christian1, Autor
Affiliations:
1Max Planck Society, ou_persistent13              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008-01
 Publikationsstatus: Angenommen
 Seiten: 78 p.
 Ort, Verlag, Ausgabe: München, Germany : Technische Universität München
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 423580
Anderer: AL 04/1044
 Art des Abschluß: Diplom

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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