Studying the effect of noise on the performance of 2D and 3D texture measures 
for quantifying the trabecular bone structure as obtained with high resolution 
MR imaging at 3 tesla

Monetti, Roberto; Bauer, Jan; Mueller, Dirk; Rummeny, Ernst J.; Link, Thomas M.; Majumdar, Sharmila; Matsuura, Maiko; Eckstein, Felix; Sidorenko, Irina; Raeth, Christoph W.

doi:10.1117/12.769161

Studying the effect of noise on the performance of 2D and 3D texture measures for quantifying the trabecular bone structure as obtained with high resolution MR imaging at 3 tesla

Monetti, R., Bauer, J., Mueller, D., Rummeny, E. J., Link, T. M., Majumdar, S., Matsuura, M., Eckstein, F., Sidorenko, I., & Raeth, C. W. (2008). Studying the effect of noise on the performance of 2D and 3D texture measures for quantifying the trabecular bone structure as obtained with high resolution MR imaging at 3 tesla. In J., Reinhardt, & J., Pluim (Eds.), Medical Imaging 2008: Image Processing (pp. 1-9). Bellingham, Wash., USA: Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-C896-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-C897-6

資料種別: 会議論文

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Monetti, Roberto¹, 著者
Bauer, Jan, 著者
Mueller, Dirk, 著者
Rummeny, Ernst J., 著者
Link, Thomas M., 著者
Majumdar, Sharmila, 著者
Matsuura, Maiko, 著者
Eckstein, Felix, 著者
Sidorenko, Irina¹, 著者
Raeth, Christoph W.¹, 著者

所属:
1Theory and Complex Plasmas, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159894

内容説明

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言語: eng - English

日付: 出版: 2008

出版の状態: 出版

ページ: -

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 362891
DOI: 10.1117/12.769161
その他: 362891

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Medical Imaging 2008: Image Processing

種別: 会議論文集

著者・編者:
Reinhardt, J.M., 編集者
Pluim, J.P.W., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Bellingham, Wash., USA : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 1 - 9 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISBN: 978-0-8194-7098-0

出版物 2

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出版物名: SPIE Proceedings Series

種別: 連載記事

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 6914 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0277-786X

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