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  Einfluss der Oxidqualität auf die Stabilität von Halbleiterdetektoren bei Röntgenbestrahlung

Pahlke, A. (2004). Einfluss der Oxidqualität auf die Stabilität von Halbleiterdetektoren bei Röntgenbestrahlung. PhD Thesis, Technische Universität, München.

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pahlke.pdf (Any fulltext), 7MB
 
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pahlke.pdf
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Private
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application/pdf
Technical Metadata:
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 Creators:
Pahlke, Andreas1, Author              
Affiliations:
1High Energy Astrophysics, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159890              

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Details

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Language(s): deu - German
 Dates: 2004-02-03
 Publication Status: Accepted / In Press
 Pages: 183 S.
 Publishing info: München : Technische Universität
 Table of Contents: -
 Rev. Type: -
 Identifiers: eDoc: 213151
Other: AL 04/765
URI: http://tumb1.biblio.tu-muenchen.de/publ/diss/ph/2004/pahlke.html
 Degree: PhD

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