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  Source counts at 90 micron with the European Large Area ISO Survey (ELAIS)

Héraudeau, P., Oliver, S., del Burgo, C., Kiss, C., Stickel, M., Tóth, L. V., et al. (2003). Source counts at 90 micron with the European Large Area ISO Survey (ELAIS). In F. Combes, D. Barret, T. Contini, & L. Pagani (Eds.), Scientific Highlights 2003 (pp. 29-32). Les Ulis, France: EDP Sciences.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Héraudeau, Ph., Autor
Oliver, S., Autor
del Burgo, C., Autor
Kiss, C., Autor
Stickel, M., Autor
Tóth, L. V., Autor
Mueller, T.1, Autor           
Affiliations:
1Infrared and Submillimeter Astronomy, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159889              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 119379
Anderer: 7728
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Scientific Highlights 2003
Veranstaltungsort: Bordeaux, France
Start-/Enddatum: 2003-06-16 - 2003-06-20

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Scientific Highlights 2003
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Combes, F., Herausgeber
Barret, D., Herausgeber
Contini, T., Herausgeber
Pagani, L., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Les Ulis, France : EDP Sciences
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 29 - 32 Identifikator: ISBN: 2-86883-719-0

Quelle 2

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Titel: sf 2a
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -