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学術論文

Symmetry Detection Using Line Features

MPS-Authors
/persons/resource/persons44158

Bokeloh,  Martin
Computer Graphics, MPI for Informatics, Max Planck Society;
International Max Planck Research School, MPI for Informatics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons44123

Berner,  Alexander
Computer Graphics, MPI for Informatics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons45695

Wand,  Michael
Computer Graphics, MPI for Informatics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons45449

Seidel,  Hans-Peter
Computer Graphics, MPI for Informatics, Max Planck Society;

URL
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フルテキスト (公開)
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付随資料 (公開)
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引用

Bokeloh, M., Berner, A., Wand, M., Seidel, H.-P., & Schilling, A. (2009). Symmetry Detection Using Line Features. Computer Graphics Forum (Proc. Eurographics), 28(2), 697-706.


引用: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-19E4-3
要旨
要旨はありません