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会議論文

EELS and EFTEM studies at low energy losses and high energy resolution

MPS-Authors
/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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引用

Sigle, W. (2004). EELS and EFTEM studies at low energy losses and high energy resolution. In I., Anderson, R., Price, E., Hall, E., Clark, & S., McKernan (Eds.), Proceedings Microscopy and Microanalysis 2004, Suppl. 2 (pp. 258CD-259CD). New York, USA: Press Syndicate of the University of Cambridge.


引用: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2AE1-8
要旨
要旨はありません