Electrical and Structural Characterization of a Low-Angle Tilt Grain Boundary 
in Fe-doped SrTiO3

De Souza, R.; Kienzle, O.; Fleig, J.; Maier, J.; Rühle, M.

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Konferenzbeitrag

Electrical and Structural Characterization of a Low-Angle Tilt Grain Boundary in Fe-doped SrTiO₃

MPG-Autoren

De Souza, R.
Max Planck Society;

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Kienzle, O.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

Fleig, J.
Max Planck Society;

Maier, J.
Max Planck Society;

/persons/resource/persons76016

Rühle, M.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

De Souza, R., Kienzle, O., Fleig, J., Maier, J., & Rühle, M. (2002). Electrical and Structural Characterization of a Low-Angle Tilt Grain Boundary in Fe-doped SrTiO₃. In T. Ramanarayanan, W. Worrell, & M. Mogensen (Eds.), Proceedings of the 4th International Symposium on Ionic and Mixed Conducting Ceramics (pp. 226-237). Pennington, NJ: Electrochemical Society.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3349-C

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