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学術論文

Characterization techniques

MPS-Authors
/persons/resource/persons76016

Rühle,  M.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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引用

Eckert, H., & Rühle, M. (2001). Characterization techniques. Current Opinion in Solid State & Materials Science, 5(2-3), 193-194.


引用: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3537-F
要旨
要旨はありません