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Zeitschriftenartikel

Diffraction analysis of internal strain-stress fields in textured, transversely isotropic thin films: theoretical basis and simulation

MPG-Autoren
/persons/resource/persons76284

Welzel,  U.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75750

Lamparter,  P.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75858

Mittemeijer,  E. J.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft;

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Zitation

Leoni, M., Welzel, U., Lamparter, P., Mittemeijer, E. J., & Kamminga, J. D. (2001). Diffraction analysis of internal strain-stress fields in textured, transversely isotropic thin films: theoretical basis and simulation. Philosophical Magazine A-Physics of Condensed Matter Structure Defects and Mechanical Properties, 81(3), 597-623.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3550-6
Zusammenfassung
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