Depth-dependent critical behavior in V2H

Del Genio, C. I.; Trenkler, J.; Bassler, K. E.; Wochner, P.; Haeffner, D. R.; Reiter, G. F.; Bai, J.; Moss, S. C.

doi:10.1103/PhysRevB.79.184113

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Depth-dependent critical behavior in V₂H

MPG-Autoren

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Trenkler, J.
Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Wochner, P.
Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Del Genio, C. I., Trenkler, J., Bassler, K. E., Wochner, P., Haeffner, D. R., Reiter, G. F., et al. (2009). Depth-dependent critical behavior in V₂H. Physical Review B, 79: 184113. doi:10.1103/PhysRevB.79.184113.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3CDD-5

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