日本語
 
Help Privacy Policy ポリシー/免責事項
  詳細検索ブラウズ

アイテム詳細

登録内容を編集ファイル形式で保存
一時保存へ追加
  タグ情報を表示リリース履歴を表示詳細要約

公開
学術論文

Electron backscattering in sputter depth profiling using AED, EPES, and REELS

MPS-Authors
/persons/resource/persons75598

Hofmann,  S.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

External Resource
There are no locators available
Fulltext (restricted access)
There are currently no full texts shared for your IP range.
フルテキスト (公開)
公開されているフルテキストはありません
付随資料 (公開)
There is no public supplementary material available
引用

Hofmann, S. (2008). Electron backscattering in sputter depth profiling using AED, EPES, and REELS. Journal of Surface Analysis, 15(2), 130-138.


引用: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4170-1
要旨
要旨はありません