Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
  Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Freigegeben
Konferenzbeitrag

Measuring projected potential profiles across interfaces by reconstructing the exit face wave function from through focal series images

MPG-Autoren
/persons/resource/persons75691

Koch,  C. T.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76016

Rühle,  M.
Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
Es sind keine externen Ressourcen hinterlegt
Volltexte (beschränkter Zugriff)
Für Ihren IP-Bereich sind aktuell keine Volltexte freigegeben.
Volltexte (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Volltexte in PuRe verfügbar
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Bhattacharyya, S., Koch, C. T., & Rühle, M. (2006). Measuring projected potential profiles across interfaces by reconstructing the exit face wave function from through focal series images. In Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006 (pp. 1138-1138). International Federation of Societies in Microscopy.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4894-6
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar