Quantitative analysis of layering and in-plane structural ordering at an 
alumina-aluminum solid-liquid interface

Kauffmann, Y.; Oh, S. H.; Koch, C.; Hashibon, A.; Scheu, C.; Rühle, M.; Kaplan, W.

doi:10.1016/j.actamat.2011.03.061

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学術論文

Quantitative analysis of layering and in-plane structural ordering at an alumina-aluminum solid-liquid interface

MPS-Authors

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Koch, C.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Rühle, M.
Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Kauffmann, Y., Oh, S. H., Koch, C., Hashibon, A., Scheu, C., Rühle, M., & Kaplan, W. (2011). Quantitative analysis of layering and in-plane structural ordering at an alumina-aluminum solid-liquid interface. Acta Materialia, 59, 4378-4386. doi:10.1016/j.actamat.2011.03.061.

引用: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4F06-3

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