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Konferenzbeitrag

Nano-craters due to impact of individual highly charged ions on surfaces and thin films

MPG-Autoren
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Ginzel,  R.
Division Prof. Dr. Joachim H. Ullrich, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons30383

Crespo López-Urrutia,  J.R.
Division Prof. Dr. Joachim H. Ullrich, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons31125

Ullrich,  J.
Division Prof. Dr. Joachim H. Ullrich, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
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Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Ritter, R., Kowarik, G., Ginzel, R., Wilhelm, R., Heller, R., Papaléo, R. M., et al. (2012). Nano-craters due to impact of individual highly charged ions on surfaces and thin films. Journal of Physics: Conference Series, 388(part 13): 132028. doi:10.1088/1742-6596/388/13/132028.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0014-7387-B
Zusammenfassung
We present a systematic study on nano-crater formation due to impact of individual slow highly charged ions (Xe20+ − Xe50+) on thin polymethyl-metacrylate films, which have been spin-coated on a Si-wafer.