Temperature- and time-resolved X-ray scattering at thin organic films

Bodenthin, Y.; Grenzer, J.; Lauter, R.; Pietsch, U.; Lehmann, P.; Kurth, D. G.; Möhwald, H.

doi:10.1107/S090904950200794X

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Temperature- and time-resolved X-ray scattering at thin organic films

MPG-Autoren

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Lauter, R.
Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society;

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Lehmann, P.
Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society;

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Kurth, D. G.
Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society;

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Möhwald, H.
Helmuth Möhwald, Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society;

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Zitation

Bodenthin, Y., Grenzer, J., Lauter, R., Pietsch, U., Lehmann, P., Kurth, D. G., et al. (2002). Temperature- and time-resolved X-ray scattering at thin organic films. Journal of Synchrotron Radiation; Wiley-Blackwell on behalf of the IUCr, 9 (Part 4), 206-209. doi:10.1107/S090904950200794X.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-66B6-E

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