Deutsch
 
Benutzerhandbuch Datenschutzhinweis Impressum Kontakt
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Freigegeben

Konferenzbeitrag

Attenuated Total Reflection Mid-IR-spectroscopy for Electrochemical Applications using a QCL

MPG-Autoren
/persons/resource/persons125310

Pengel,  S.
Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125379

Schönberger,  B.
Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125289

Nayak,  S.
Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125132

Erbe,  A.
Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
Es sind keine Externen Ressourcen verfügbar
Volltexte (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Volltexte verfügbar
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Pengel, S., Schönberger, B., Nayak, S., & Erbe, A. (n.d.). Attenuated Total Reflection Mid-IR-spectroscopy for Electrochemical Applications using a QCL. In Lasers, Sources, and Related Photonic Devices Technical Digest. Optical Society of America, 2012.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2BA9-5
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar