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Zeitschriftenartikel

Incidence angle dependence of enhancement factor in attenuated total reflection surface enhanced infrared absorption spectroscopy studied by numerical solution of the vectorial Maxwell equations

MPG-Autoren
/persons/resource/persons125448

Vasan,  G.
Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125132

Erbe,  A.
Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Vasan, G., & Erbe, A. (2012). Incidence angle dependence of enhancement factor in attenuated total reflection surface enhanced infrared absorption spectroscopy studied by numerical solution of the vectorial Maxwell equations. Physical Chemistry Chemical Physics, 14, 14702-14709. doi:10.1039/C2CP42603J.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2DD5-F
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