A new large-area mapping technique to improve the statistical reliability of 
EBSD datasets

Davut, K.; Zaefferer, S.

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Vortrag

A new large-area mapping technique to improve the statistical reliability of EBSD datasets

MPG-Autoren

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Davut, K.
Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125491

Zaefferer, S.
Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Davut, K., & Zaefferer, S. (2011). A new large-area mapping technique to improve the statistical reliability of EBSD datasets. Talk presented at Royal Microscopy Society (RMS) EBSD 2011 Meeting. Düsseldorf, Germany. 2011-03-28 - 2011-03-30.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3271-E

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