Orientation microscopy in SEM and TEM: A critical review

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学術論文

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Zaefferer, S.
Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zaefferer, S. (2011). Orientation microscopy in SEM and TEM: A critical review. Crystal Research and Technology, 46, 607-628.

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