Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
  Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Freigegeben
Vortrag

Antireflective layers on thin metal films for mid‐infrared internal reflection spectroscopy

MPG-Autoren
/persons/resource/persons125341

Reithmeier,  M.
Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125132

Erbe,  A.
Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
Es sind keine externen Ressourcen hinterlegt
Volltexte (beschränkter Zugriff)
Für Ihren IP-Bereich sind aktuell keine Volltexte freigegeben.
Volltexte (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Volltexte in PuRe verfügbar
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Reithmeier, M., & Erbe, A. (2010). Antireflective layers on thin metal films for mid‐infrared internal reflection spectroscopy. Talk presented at Optical Interference Coatings - Topical Meeting. Tucson, Arizona, USA. 2010-06 - 2010-06.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-38F4-B
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar