Deutsch
 
Benutzerhandbuch Datenschutzhinweis Impressum Kontakt
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Freigegeben

Vortrag

What can EPR hyperfine parameters tell about the Si dangling bond? - A theoretical study

MPG-Autoren
/persons/resource/persons125143

Freysoldt,  C.
Defect Chemistry and Spectroscopy, Computational Materials Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125313

Pfanner,  G.
Defect Chemistry and Spectroscopy, Computational Materials Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125293

Neugebauer,  J.
Computational Materials Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
Es sind keine Externen Ressourcen verfügbar
Volltexte (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Volltexte verfügbar
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Freysoldt, C., Pfanner, G., & Neugebauer, J. (2009). What can EPR hyperfine parameters tell about the Si dangling bond? - A theoretical study. Talk presented at International conference on amorphous and nanoporous semiconductors (ICANS) 23. Utrecht, Netherlands. 2009-08-24 - 2009-08-28.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-4008-9
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar