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Zeitschriftenartikel

Advances in TEM orientation microscopy by combination of dark-field conical scanning and improved image matching

MPG-Autoren
/persons/resource/persons125481

Wu,  G.
Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125491

Zaefferer,  S.
Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Wu, G., & Zaefferer, S. (2009). Advances in TEM orientation microscopy by combination of dark-field conical scanning and improved image matching. Ultramicroscopy, 109, 1317-1325.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-4475-4
Zusammenfassung
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