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Zeitschriftenartikel

Surface-sensitive reflection-mode EXAFS from layered sample systems: The influence of surface and interface roughness

MPG-Autoren
/persons/resource/persons125213

Keil,  P.
Christian Doppler Laboratory for Metal/Polymer Interfaces, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Keil, P., & Lützenkirchen-Hecht, D. (2009). Surface-sensitive reflection-mode EXAFS from layered sample systems: The influence of surface and interface roughness. J. Synchrotron Rad., 16, 443-443.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-447D-3
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