3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Möglichkeiten und Grenzen einer 
neuen Mikroskopietechnik

Zaefferer, S.

Item

ITEM ACTIONSEXPORT

Add to Basket

Local TagsStatisticsRelease HistoryDetailsSummary

Released

Teaching

3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Möglichkeiten und Grenzen einer neuen Mikroskopietechnik

MPS-Authors

/persons/resource/persons125491

Zaefferer, S.
Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

External Resource

No external resources are shared

Fulltext (public)

There are no public fulltexts stored in PuRe

Supplementary Material (public)

There is no public supplementary material available

Citation

Zaefferer, S. (2008). 3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Möglichkeiten und Grenzen einer neuen Mikroskopietechnik. Materialwissenschaftliches Kolloquium im Institut für Eisenhüttenkunde. RWTH Aachen, Germany, 2008-10-23.

Cite as: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-458F-4

Abstract

There is no abstract available