3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Möglichkeiten und Grenzen einer 
neuen Mikroskopietechnik

Zaefferer, S.

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3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Möglichkeiten und Grenzen einer neuen Mikroskopietechnik

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Zaefferer, S.
Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zaefferer, S. (2008). 3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Möglichkeiten und Grenzen einer neuen Mikroskopietechnik. Materialwissenschaftliches Kolloquium im Institut für Eisenhüttenkunde. RWTH Aachen, Germany, 2008-10-23.

Cite as: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-458F-4

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