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Vortrag

MIM Characterisation of thin tantalum oxide films

MPG-Autoren
/persons/resource/persons125070

Bruder,  K.
Electrochemistry and Corrosion, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Hassel,  A. W.
Electrochemistry and Corrosion, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Bruder, K., Hassel, A. W., & Diesing, D. (2008). MIM Characterisation of thin tantalum oxide films. Talk presented at 72. Jahrestagung der DPG. Berlin, Germany. 2008-02-25 - 2008-02-29.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-4BA5-4
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