Deutsch
 
Benutzerhandbuch Datenschutzhinweis Impressum Kontakt
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Freigegeben

Vortrag

3D orientation microscopy in a FIB-SEM: A new dimension of microstructure characterisation

MPG-Autoren
/persons/resource/persons125491

Zaefferer,  S.
Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
Es sind keine Externen Ressourcen verfügbar
Volltexte (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Volltexte verfügbar
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Zaefferer, S. (2007). 3D orientation microscopy in a FIB-SEM: A new dimension of microstructure characterisation. Talk presented at Presentation at the scientific advisory board MPI Eisenforschung. MPI Eisenforschung GmbH, Düsseldorf, Germany. 2007-02-27.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-53A1-9
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar