High-resolution Kelvin probe microscopy in corrosion science: Scanning Kelvin 
probe force microscopy (SKPFM) versus classical scanning Kelvin probe (SKP)

Rohwerder, Michael; Turcu, Eugen Florin

doi:10.1016/j.electacta.2007.03.016

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Zur Ablage hinzufügen

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Freigegeben

Zeitschriftenartikel

High-resolution Kelvin probe microscopy in corrosion science: Scanning Kelvin probe force microscopy (SKPFM) versus classical scanning Kelvin probe (SKP)

MPG-Autoren

/persons/resource/persons125346

Rohwerder, Michael
Molecular Structure and Surface Modification, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125437

Turcu, Eugen Florin
Molecular Structure and Surface Modification, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

Externe Ressourcen

Es sind keine externen Ressourcen hinterlegt

Volltexte (beschränkter Zugriff)

Für Ihren IP-Bereich sind aktuell keine Volltexte freigegeben.

Volltexte (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Volltexte in PuRe verfügbar

Ergänzendes Material (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar

Zitation

Rohwerder, M., & Turcu, E. F. (2007). High-resolution Kelvin probe microscopy in corrosion science: Scanning Kelvin probe force microscopy (SKPFM) versus classical scanning Kelvin probe (SKP). Electrochimica Acta, 53(2), 290-299. doi:10.1016/j.electacta.2007.03.016.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-54F0-4

Zusammenfassung

Es ist keine Zusammenfassung verfügbar