Deutsch
 
Benutzerhandbuch Datenschutzhinweis Impressum Kontakt
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Freigegeben

Konferenzbeitrag

Structural analysis of Bi2Te3 superlattices epitaxially grown on BaF2 by transmission electron microscopy

MPG-Autoren
Es sind keine MPG-Autoren in der Publikation vorhanden
Externe Ressourcen
Es sind keine Externen Ressourcen verfügbar
Volltexte (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Volltexte verfügbar
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Peranio, N., Eibl, O., & Nurnus, J. (2005). Structural analysis of Bi2Te3 superlattices epitaxially grown on BaF2 by transmission electron microscopy. In ICT2004. Piscataway, NJ, USA: IEEE.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-62EB-1
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar