Charge fluctuations and image potential at oxide-metal interfaces

Altieri, S.; Tjeng, L. H.; Voogt, F. C.; Hibma, T.; Rogojanu, O.; Sawatzky, G. A.

doi:10.1103/PhysRevB.66.155432

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Zur Ablage hinzufügen

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Freigegeben

Zeitschriftenartikel

Charge fluctuations and image potential at oxide-metal interfaces

MPG-Autoren

Es sind keine MPG-Autoren in der Publikation vorhanden

Externe Ressourcen

Es sind keine externen Ressourcen hinterlegt

Volltexte (beschränkter Zugriff)

Für Ihren IP-Bereich sind aktuell keine Volltexte freigegeben.

Volltexte (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Volltexte in PuRe verfügbar

Ergänzendes Material (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar

Zitation

Altieri, S., Tjeng, L. H., Voogt, F. C., Hibma, T., Rogojanu, O., & Sawatzky, G. A. (2002). Charge fluctuations and image potential at oxide-metal interfaces. Physical Review B, 66(15): 155432, pp. 1-6. doi:10.1103/PhysRevB.66.155432.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-1770-D

Zusammenfassung

We analyze the dynamical response of the Ag metal surface to electronic excitations in a MgO(100)/Ag(100) oxide-metal interface system. Intrinsic and extrinsic surface plasmon excitations are discussed in relation to mutual interactions between the oxide and the metal. A direct relationship is established between the reduction of charge fluctuation energies in the MgO(100) layers and the image charge screening by the Ag(100) metal surface.