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Size effect in metallic thin films characterized by low-temperature X-ray diffraction

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Eiper, E., Martinschitz, K. J., Dehm, G., & Kečkéš, J. (2006). Size effect in metallic thin films characterized by low-temperature X-ray diffraction. Poster presented at 55th Annual Denver X-ray Conference, Denver, CO, USA.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-4E1A-C
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