Macke, S., Radi, A., Hamann-Borrero, J. E., Verna, A., Bluschke, M., Brück, S., Goering, E., Sutarto, R., He, F., Cristiani,
G., Wu, M., Benckiser, E., Habermeier, H.-U., Logvenov, G., Gauquelin, N., Botton, G. A., Kajdos, A. P., Stemmer, S., Sawatzky,
G. A., Haverkort, M. W., Keimer, B., & Hinkov, V. (2014). Element specific monolayer
depth profiling. Advanced Materials, 26(38), 6554-6559.
doi:10.1002/adma.201402028.