Depth characterization of nm-layers by low energy ion scattering

Draxler, M.; Markin, S. N.; Beikler, R.; Taglauer, E.; Kastner, F.; Bergsmann, M.; Bauer, P.

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Depth characterization of nm-layers by low energy ion scattering

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Taglauer, E.
Material Research (MF), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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Zitation

Draxler, M., Markin, S. N., Beikler, R., Taglauer, E., Kastner, F., Bergsmann, M., et al. (2004). Depth characterization of nm-layers by low energy ion scattering. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 219-220, 578-583. Retrieved from http://www.sciencedirect.com/science?_ob=MImg&_imagekey=B6TJN-4BRKXPB-3W-K&_cdi=5315&_user=100196&_orig=browse&_coverDate=06%2F30%2F2004&_sk=997809999&view=c&wchp=dGLbVzz-zSkWW&md5=5f66f63f4bfd133efc4970b9f3185089&ie=/sdarticle.pdf.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-1C39-7

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