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Vortrag

Dislocations, grain boundaries and strain fields observed on bulk samples: high resolution defect analysis by SEM-based diffraction techniques

MPG-Autoren
/persons/resource/persons125491

Zaefferer,  Stefan
Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Zaefferer, S. (2015). Dislocations, grain boundaries and strain fields observed on bulk samples: high resolution defect analysis by SEM-based diffraction techniques. Talk presented at Talk at Universität Bayreuth. Bayreuth, Germany. 2015-04-16.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-45F6-D
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