Dependence of Blister-Deckeldichte and of Depth Profiles of Implanted He Ions 
in Nb on Angle of Incidence

Risch, M.R.; Roth, J.; Scherzer, B.M.U.

アイテム詳細

登録内容を編集ファイル形式で保存

一時保存へ追加

タグ情報を表示リリース履歴を表示詳細要約

公開

学術論文

Dependence of Blister-Deckeldichte and of Depth Profiles of Implanted He Ions in Nb on Angle of Incidence

MPS-Authors

/persons/resource/persons110287

Roth, J.
Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

External Resource

There are no locators available

Fulltext (restricted access)

There are currently no full texts shared for your IP range.

フルテキスト (公開)

公開されているフルテキストはありません

付随資料 (公開)

There is no public supplementary material available

引用

Risch, M., Roth, J., & Scherzer, B. (1979). Dependence of Blister-Deckeldichte and of Depth Profiles of Implanted He Ions in Nb on Angle of Incidence. Journal of Nuclear Materials, 82, 220-226.

引用: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-BA67-F

要旨

要旨はありません