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Konferenzbeitrag

Depth Profiling of D Implanted into Ti at Different Temperatures

MPG-Autoren
/persons/resource/persons110287

Roth,  J.
Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons109001

Eckstein,  W.
Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons108738

Bohdansky,  J.
Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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Zitation

Roth, J., Eckstein, W., & Bohdansky, J. (1980). Depth Profiling of D Implanted into Ti at Different Temperatures. Ion Beam Modification of Materials, 48, 1679-1695.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-C29D-9
Zusammenfassung
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