Parametric and Reduced-Order Modeling for the Thermal Analysis of 
Nanoelectronic Structures

Feng, Lihong; Meuris, Peter; Schoenmaker, Wim; Benner, Peter

doi:10.1007/978-3-319-30399-4_16

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Parametric and Reduced-Order Modeling for the Thermal Analysis of Nanoelectronic Structures

MPG-Autoren

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Feng, Lihong
Computational Methods in Systems and Control Theory, Max Planck Institute for Dynamics of Complex Technical Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons86253

Benner, Peter
Computational Methods in Systems and Control Theory, Max Planck Institute for Dynamics of Complex Technical Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Feng, L., Meuris, P., Schoenmaker, W., & Benner, P. (2016). Parametric and Reduced-Order Modeling for the Thermal Analysis of Nanoelectronic Structures. In A. Bartel, M. Clemens, M. Günther, & E. J. W. ter Maten (Eds.), Scientific Computing in Electrical Engineering (pp. 155-163). Switzerland: Springer International Publishing.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-EF52-B

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