Corrigendum to "Evidence for in-plane tetragonal c-axis in MnxGa1-x thin films 
using transmission electron microscopy" [Scr. Mater. 114 (2016) 165-169]

Karel, J.; Casoli, F.; Lupo, P.; Nasi, L.; Fabbrici, S.; Righi, L.; Albertini, F.; Felser, C.

doi:10.1016/j.scriptamat.2016.03.025

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Corrigendum to "Evidence for in-plane tetragonal c-axis in MnxGa1-x thin films using transmission electron microscopy" [Scr. Mater. 114 (2016) 165-169]

MPG-Autoren

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Karel, J.
Julie Karel, Inorganic Chemistry, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society;

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Felser, C.
Claudia Felser, Inorganic Chemistry, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society;

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Zitation

Karel, J., Casoli, F., Lupo, P., Nasi, L., Fabbrici, S., Righi, L., et al. (2016). Corrigendum to "Evidence for in-plane tetragonal c-axis in MnxGa1-x thin films using transmission electron microscopy" [Scr. Mater. 114 (2016) 165-169]. Scripta Materialia, 120, 112-112. doi:10.1016/j.scriptamat.2016.03.025.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-F7FD-0

Zusammenfassung

The authors regret a typo on page 166 of the paper; the anisotropy (K1) values are in the range of 7–9 × 105 J/m3.