Crasemann, Jan Electron Microscopy, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;
Schulz, Hans-Joachim Electron Microscopy, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;
Crasemann, J., Schulz, H.-J., & Gumlich, H.-E. (1986). Nichtstationäre infrarot-optische Prozesse an tiefen Störstellen in III-V-Verbindungshalbleitern. PhD Thesis, Technische Universität, Berlin.